很多人都看不懂安檢門的技術(shù)參數(shù)，特別是這一行業(yè)的技術(shù)人員，了解安檢門的技術(shù)參數(shù)有助于幫助我們售后維修安檢門，以及選購(gòu)安檢門，今天守門神安檢門廠家就為你詳細(xì)講解一下：金屬探測(cè)門技術(shù)參數(shù)具體含義

       靈敏度 – 用來(lái)定義產(chǎn)生報(bào)警的金屬物體的大小的參數(shù)。靈敏度提高，則可探測(cè)到更小體積的金屬物體。

  識(shí)別力 – 安檢門區(qū)分無(wú)危險(xiǎn)物品與武器的能力。部署在安檢點(diǎn)的安檢門的報(bào)警率可提示設(shè)備的識(shí)別能力。識(shí)別力受多種因素影響，例如：靈敏度級(jí)別、通過(guò)人員類別、季節(jié)（氣候冷暖）等。

 無(wú)關(guān)報(bào)警 -（= 垃圾報(bào)警）。由通過(guò)安檢門的人員隨身攜帶的無(wú)危害性金屬物品所引起的報(bào)警。

 誤報(bào)警 – 由金屬物體以外的其他因素（如電子干擾）所引發(fā)的報(bào)警。對(duì)于安檢門來(lái)說(shuō)，由金屬物體所引起的報(bào)警（有關(guān)或無(wú)關(guān)）不屬于誤報(bào)警。

 報(bào)警率 – 由金屬物品所引起的報(bào)警次數(shù)占通過(guò)安檢門的人員總數(shù)的百分比。報(bào)警率受安檢門的識(shí)別能力影響。如果識(shí)別力較差，例如，有多次報(bào)警是由無(wú)危險(xiǎn)金屬物品引起的，則報(bào)警率更高。注意！由電磁干擾或其他與通過(guò)安檢門的物品無(wú)關(guān)的原因所引發(fā)的報(bào)警不包含在報(bào)警率范圍內(nèi)。

 通過(guò)率 – 在單位時(shí)間內(nèi)，在不影響安檢門的探測(cè)性能的條件下，允許通過(guò)的人員的最大數(shù)目。通過(guò)率表示在人員通過(guò)后安檢門恢復(fù)待機(jī)狀態(tài)的能力。在實(shí)際操作中，由于受檢查程序和人的最大行走速度等因素的限制，最大通過(guò)率僅僅是理論上的，通常不能達(dá)到。

 物體速度響應(yīng) – 當(dāng)人員以不同速度通過(guò)時(shí)，安檢門的保持靈敏度級(jí)別不變的能力。校準(zhǔn) – 根據(jù)操作現(xiàn)場(chǎng)的要求，為達(dá)到最佳的工作性能，對(duì)安檢門的參數(shù)值進(jìn)行設(shè)置的步驟。

 并排使用 – 如果兩臺(tái)安檢門或多臺(tái)并排操作的安檢門間隔過(guò)近，它們的電磁場(chǎng)會(huì)影響相互之間的操作。通過(guò)采用不同的工作頻率，可以減小臨近的安檢門之間的干擾。

 工作頻率 – 安檢門所產(chǎn)生的電磁場(chǎng)頻率。通常，安檢門具有多個(gè)不同的工作頻率。當(dāng)在安裝現(xiàn)場(chǎng)對(duì)安檢門進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)，選擇具有最低干擾級(jí)別的工作頻率。同時(shí)，通過(guò)采用多個(gè)工作頻率，無(wú)需使用同步線纜，可實(shí)現(xiàn)多臺(tái)安檢門的并排操作。

 探測(cè)均勻性 – 不考慮金屬物體的形狀和方向，安檢門在整個(gè)探測(cè)區(qū)域內(nèi)保持均勻靈敏度的能力。探測(cè)均勻性直接影響安檢門的識(shí)別能力。通常，安檢門的靈敏度根據(jù)探測(cè)區(qū)域的最弱位置進(jìn)行設(shè)定。如果探測(cè)均勻性較差，可能導(dǎo)致通道內(nèi)的其他位置的不必要的過(guò)。

 高靈敏度，使識(shí)別力顯著地降低。當(dāng)對(duì)安檢門的探測(cè)均勻性進(jìn)行測(cè)試時(shí)，應(yīng)該總是采用實(shí)物，例如武器或**武器等。采用柱體或球體作為測(cè)試物體可能會(huì)對(duì)安檢門的真實(shí)探測(cè)均勻性給出錯(cuò)誤的指示。

 抗干擾性 - 安檢門的操作可能受到電子或機(jī)械干擾的影響。電子干擾通常由位于安裝現(xiàn)場(chǎng)附近的其它電子設(shè)備造成。電子干擾可能通過(guò)主電源線傳導(dǎo)或?yàn)檩椛湫愿蓴_。機(jī)械干擾由安檢門附近的移動(dòng)的金屬物體、墻體后或地面結(jié)構(gòu)下的震動(dòng)等引起。只有采用有效的硬件和軟件過(guò)濾措施以及專門的線圈設(shè)計(jì)，才能取得良好的抗干擾性。

 關(guān)鍵測(cè)試物體 – 在一組測(cè)試物體中，最難被探測(cè)到的物體。所需探測(cè)靈敏度最高。